3012
edycji
Literatura: Różnice pomiędzy wersjami
Przejdź do nawigacji
Przejdź do wyszukiwania
→DTR MERA-400
Nie podano opisu zmian |
|||
| Linia 47: | Linia 47: | ||
** część 4 - Ogólna instrukcja eksploatacji | ** część 4 - Ogólna instrukcja eksploatacji | ||
** część 5 - Instrukcja pakowania modułów systemu MERA-400 | ** część 5 - Instrukcja pakowania modułów systemu MERA-400 | ||
* Dokumentacja Techniczno-Ruchowa Tom II | * Dokumentacja Techniczno-Ruchowa Tom II - Testowanie zestawu MERA-400 | ||
** część 1 - Test procesora TP | |||
** część 2 - Test bloku systemowego T8K | |||
** część 3 - Specjalizowany Operacyjny System Testowy STM-3 | |||
** część 4 - Test zegara TZG | |||
** część 5 - Test pamięci ferrytowej TPF | |||
** część 6 - Test arytmometru wielokrotnej precyzji TPZ | |||
** część 7 - Test kanału pamięciowego TPK | |||
** część 8 - Opis języka interpretacyjnego | |||
** część 9 - Test interpretacyjny kanału znakowego TKZ | |||
** część 10 - Test interpretacyjny perforatora TIP | |||
** część 11 - Test interpretacyjny czytnika TIC | |||
** część 12 - Test interpretacyjny drukarki TIR | |||
** część 13 - Test interpretacyjny drukarki z klawiaturą TIK | |||
** część 14 - Test interpretacyjny dysków TID | |||
** część 15 - Test współpracy modułów TWM | |||
** część 16 - Test interpretacyjny dysku elastycznego TDE | |||
** część 17 - Test interpretacyjny drukarki wierszowej TDW | |||
** część 18 - Test interpretacyjny taśm TIT | |||
** część 19 - Test alarmu zasilania i restartu oraz zaniku zasilania modułu TAZ | |||
** część 20 - Test interpretacyjny pisaka X Y KL 2 | |||
** część 21 - Test Bootstrapu Automatycznego TBS | |||
** część 22 - Test pamięci operacyjnej TPO | |||
* Dokumentacja Techniczno-Ruchowa Tom III | * Dokumentacja Techniczno-Ruchowa Tom III | ||
** część 1a - Opis eksploatacyjny systemu operacyjnego SOM-3 (wersja CORE) | ** część 1a - Opis eksploatacyjny systemu operacyjnego SOM-3 (wersja CORE) | ||