3041
edycji
Linia 117: | Linia 117: | ||
* uszkodzenia dynamiczne były trudne w wyśledzeniu, diagnozowane były testerem układów (na wysokich częstotliwościach), często ich usunięcie sprowadzało się do wymiany "w ciemno" najbardziej podejrzanego układu, | * uszkodzenia dynamiczne były trudne w wyśledzeniu, diagnozowane były testerem układów (na wysokich częstotliwościach), często ich usunięcie sprowadzało się do wymiany "w ciemno" najbardziej podejrzanego układu, | ||
* pakiet interfejsu psuł się najczęściej - przy zapisie do pamięci samych zer lub samych jedynek objawiał się "sticky bit", | * pakiet interfejsu psuł się najczęściej - przy zapisie do pamięci samych zer lub samych jedynek objawiał się "sticky bit", | ||
* zdecydowanie częściej psuły się układy CEMI niż Texas Instruments | * zdecydowanie częściej psuły się układy CEMI niż Texas Instruments, | ||
* | * najczęściej psuły się układy Tesli (z tego powodu były np. niedopuszczone do produkcji Nucona) | ||
* najczęściej psuły się proste bramki CEMI (np. 7404), | * najczęściej psuły się proste bramki CEMI (np. 7404), | ||
* psuły się wyjścia, a nie wejścia układów - sygnał stał na niezmiennym poziomie, | * psuły się wyjścia, a nie wejścia układów - sygnał stał na niezmiennym poziomie, | ||
* w zasilaczu padały kondensatory, | * w zasilaczu padały kondensatory, | ||
* zasilacze siały szpilkami (na to też narzekali konstruktorzy MERA 9425). | * zasilacze siały szpilkami (na to też narzekali konstruktorzy MERA 9425). | ||
O połączeniach owijanych: | O połączeniach owijanych: |