Linia 117: |
Linia 117: |
| * uszkodzenia dynamiczne były trudne w wyśledzeniu, diagnozowane były testerem układów (na wysokich częstotliwościach), często ich usunięcie sprowadzało się do wymiany "w ciemno" najbardziej podejrzanego układu, | | * uszkodzenia dynamiczne były trudne w wyśledzeniu, diagnozowane były testerem układów (na wysokich częstotliwościach), często ich usunięcie sprowadzało się do wymiany "w ciemno" najbardziej podejrzanego układu, |
| * pakiet interfejsu psuł się najczęściej - przy zapisie do pamięci samych zer lub samych jedynek objawiał się "sticky bit", | | * pakiet interfejsu psuł się najczęściej - przy zapisie do pamięci samych zer lub samych jedynek objawiał się "sticky bit", |
− | * zdecydowanie częściej psuły się układy CEMI niż Texas Instruments czy Tesli, | + | * zdecydowanie częściej psuły się układy CEMI niż Texas Instruments, |
− | * z innego źródła: najczęściej psuły się układy Tesli, | + | * najczęściej psuły się układy Tesli (z tego powodu były np. niedopuszczone do produkcji Nucona) |
| * najczęściej psuły się proste bramki CEMI (np. 7404), | | * najczęściej psuły się proste bramki CEMI (np. 7404), |
| * psuły się wyjścia, a nie wejścia układów - sygnał stał na niezmiennym poziomie, | | * psuły się wyjścia, a nie wejścia układów - sygnał stał na niezmiennym poziomie, |
| * w zasilaczu padały kondensatory, | | * w zasilaczu padały kondensatory, |
| * zasilacze siały szpilkami (na to też narzekali konstruktorzy MERA 9425). | | * zasilacze siały szpilkami (na to też narzekali konstruktorzy MERA 9425). |
| + | |
| | | |
| O połączeniach owijanych: | | O połączeniach owijanych: |