Zmiany

Przejdź do nawigacji Przejdź do wyszukiwania
Dodane 31 bajtów ,  07:38, 14 sie 2020
Linia 117: Linia 117:  
* uszkodzenia dynamiczne były trudne w wyśledzeniu, diagnozowane były testerem układów (na wysokich częstotliwościach), często ich usunięcie sprowadzało się do wymiany "w ciemno" najbardziej podejrzanego układu,
 
* uszkodzenia dynamiczne były trudne w wyśledzeniu, diagnozowane były testerem układów (na wysokich częstotliwościach), często ich usunięcie sprowadzało się do wymiany "w ciemno" najbardziej podejrzanego układu,
 
* pakiet interfejsu psuł się najczęściej - przy zapisie do pamięci samych zer lub samych jedynek objawiał się "sticky bit",
 
* pakiet interfejsu psuł się najczęściej - przy zapisie do pamięci samych zer lub samych jedynek objawiał się "sticky bit",
* zdecydowanie częściej psuły się układy CEMI niż Texas Instruments czy Tesli,
+
* zdecydowanie częściej psuły się układy CEMI niż Texas Instruments,
* z innego źródła: najczęściej psuły się układy Tesli,
+
* najczęściej psuły się układy Tesli (z tego powodu były np. niedopuszczone do produkcji Nucona)
 
* najczęściej psuły się proste bramki CEMI (np. 7404),
 
* najczęściej psuły się proste bramki CEMI (np. 7404),
 
* psuły się wyjścia, a nie wejścia układów - sygnał stał na niezmiennym poziomie,
 
* psuły się wyjścia, a nie wejścia układów - sygnał stał na niezmiennym poziomie,
 
* w zasilaczu padały kondensatory,
 
* w zasilaczu padały kondensatory,
 
* zasilacze siały szpilkami (na to też narzekali konstruktorzy MERA 9425).
 
* zasilacze siały szpilkami (na to też narzekali konstruktorzy MERA 9425).
 +
    
O połączeniach owijanych:
 
O połączeniach owijanych:

Menu nawigacyjne