Zmiany

* uszkodzenia dynamiczne były trudne w wyśledzeniu, diagnozowane były testerem układów (na wysokich częstotliwościach), często ich usunięcie sprowadzało się do wymiany "w ciemno" najbardziej podejrzanego układu,

* uszkodzenia dynamiczne były trudne w wyśledzeniu, diagnozowane były testerem układów (na wysokich częstotliwościach), często ich usunięcie sprowadzało się do wymiany "w ciemno" najbardziej podejrzanego układu,

* pakiet interfejsu psuł się najczęściej - przy zapisie do pamięci samych zer lub samych jedynek objawiał się "sticky bit",

* pakiet interfejsu psuł się najczęściej - przy zapisie do pamięci samych zer lub samych jedynek objawiał się "sticky bit",

* zdecydowanie częściej psuły się układy CEMI niż Texas Instruments czy Tesli,

* zdecydowanie częściej psuły się układy CEMI niż Texas Instruments,

* z innego źródła: najczęściej psuły się układy Tesli,

* najczęściej psuły się układy Tesli (z tego powodu były np. niedopuszczone do produkcji Nucona)

* najczęściej psuły się proste bramki CEMI (np. 7404),

* najczęściej psuły się proste bramki CEMI (np. 7404),

* psuły się wyjścia, a nie wejścia układów - sygnał stał na niezmiennym poziomie,

* psuły się wyjścia, a nie wejścia układów - sygnał stał na niezmiennym poziomie,

* w zasilaczu padały kondensatory,

* w zasilaczu padały kondensatory,

* zasilacze siały szpilkami (na to też narzekali konstruktorzy MERA 9425).

* zasilacze siały szpilkami (na to też narzekali konstruktorzy MERA 9425).

O połączeniach owijanych:

O połączeniach owijanych: